熱疲乏測試設備PTF8106
- 產品分類：信賴性測試設備 -Intermittent Operating Life ( IOL )
PTF8106 是MOSFET/IGBT/DIODE的ON/OFF Burn IN測試系統。 動作Cycle說明 : 材料通過所設定的電流(ON)加熱材料，當量測的溫度達到設定的溫度(HOT TEMP)測機即停止送電流(加熱，OFF) 測試機開始轉動風扇，對材料進行散熱，當量測的溫度...
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穩態二極体熱阻量測設備RTHJ6000D
- 產品分類：信賴性測試設備 -Thermal Resistance(RthJ-C / RthJ-A)
將您的測試流程提升至全新層次，我們引進了一款高度先進的熱阻測試設備，以實現自動化、高效率和精確度。這款設備集成了多項令人矚目的特點，旨在滿足您對於熱性能測試的最高期望。...
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PCV200MD CAPACITY TEST SYSTEM
- 產品分類：信賴性測試設備 -Capacitance (Rg / Ciss / Coss / Crss / Cj )
PCV200MD CAPACITY TEST SYSTEM PCV200MD CAPACITANCE TEST SYSTEM為MOSFET、DIODE 元件電容參數測試系統。系統具有自動量測繪製 C-V CURVE 功能，提供研發和品保分析材料特性使用。...
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順向衝擊測試機PIF8000M
- 產品分類：信賴性測試設備 -Peak Forward Surge Current(IFSM)
可作Diode, MOSFET, IGBT的導通浪湧測試 可作VF, VDS, VCE讀取，含Body Diode 或 D-S(C-E)通道 電流輸出方式 : 最大輸出500A 弦波 (60Hz/50Hz) 方波 (1mS-6mS)...
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IGBT/MOS短路測試系統
- 產品分類：信賴性測試設備 -Short-Circuit(Mosfet IGBT)
Short Circuit Emulator SYSTEM 符合規範:MIL STD 750、Method 3479測試規範專用測試機。
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高溫烤箱測試設備HTRB / HTGB 測試系統
- 產品分類：信賴性測試設備 -High TemperatureReverseBias(HTRB HTGB)
本公司的HTRB/HTGB高溫反偏測試系統主要是用來測試二極管/MOSFET等材料在高溫下的反向漏電流大小，屬於長時間的信賴性測試。 本系統主要是由恆溫烤箱、待測物PCB板(置於烤箱內)、限流PCB板(置於烤箱外)、HT8000測試機(電流讀取)、電源供應器(電壓供給)、連...
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PCV1700MD CAPACITANCE TEST SYSTEM
- 產品分類：信賴性測試設備 -Capacitance (Rg / Ciss / Coss / Crss / Cj )
PCV1700MD CAPACITANCE TEST SYSTEM PCV1700MD CAPACITANCE TEST SYSTEM為MOSFET、DIODE 元件電容參數測試系統。系統具有自動量測繪製 C-V CURVE 功能，提供研發和品保分析材料特性使用。...
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